最適の Lens Focusingが可能で、異物検査& Open/Short検査が可能です。Mobile Camera Module & CMOS/CCD Image Sensorの
開発評価用及び量産適用が可能で、Focus & Image Testのkit Typeによる生産性を向上します。

Camera Moduleの Tilt Test用として開発されStage Jigと Micrometerにて精密なTestが可能です。
Mobile Camera Module & CMOS/CCD Image Sensorの開発評価用として最高のSolutionを提供します。

Con to Con & Con to Zip or SMD製品のOpen/Short Test Jigで、高いPin Block採用による生産性及びテスト信頼性を提供します。
位置決めピンによる正確な検査具現及びChange KitでのModel Changeが出来ます。